DLOG · STDF Analyzer · STDF Analysis Tool · Windows

I-analyze ang multi-GB na STDF file sa isang click
100% offline, ligtas sa secure na corporate network

Maramdaman ang pagkakaiba sa bawat click.

Gumagana kahit sa mga corporate network na walang internet. Agad na i-parse ang STDF V4 datalog at makakuha ng interactive na wafer map, Cpk process-capability statistics, PAT outlier screening, hanggang sa kumpletong ulat sa iisang tool.

100% Local & Offline

Walang data na lumalabas sa PC mo. Gumagana sa saradong network na walang internet.

Libre ang Lahat ng Feature sa 6 na Buwan

Walang credit card o account. Gamitin ang lahat ng feature sa loob ng 180 araw mula sa unang pagbukas.

$200 Perpetual License

Walang subscription. Isang beses na bayad bawat PC.

Windows 10 / 11 (64-bit) · Walang karagdagang runtime na kailangan
Bakit DLOG · Mga Pangunahing Kakayahan

Mula sa raw STDF hanggang sa insights at reports — mas mabilis.

Agad na i-parse ang malalaking STDF V4 datalogs at gumawa ng mga interactive wafer maps, multi-dimensional charts, at Cpk statistical reports sa iisang offline tool.

EDIT & REPAIR

Direktang Pag-edit at Pag-aayos ng Binary STDF

Direktang buksan ang mga STDF V4 binary file upang i-edit ang mga bin, test values, at MIR header habang pinapanatili ang format integrity. Ganap na sumusuporta sa file repair at maramihang bulk edit.

#DirektangBinaryEdit #FormatIntegrity #PagkumpuniNgFile #BulkDataEdit
WAFER MAP

Interactive Wafer Maps

I-render ang soft at hard bin maps kasama ang mga halaga ng PAT sa high-resolution na interactive wafer map. Mabilis na ipag-ugnay ang yield summaries, Pareto defect charts, at histograms sa iisang view.

#RealTimeWaferMap #2D_3D_PATMaps #WaferStacking #DieSync
CHARTS

Mataas na Pagganap na Charts

Mabilis na gumawa ng histograms, trend run-charts, at 2D/3D scatter plots mula sa milyun-milyong puntos ng pagsukat. Agad na i-overlay ang spec limits (LSL/USL), ±σ sigma bands, at Cpk curves.

#MabilisNaCharts #HistogramTrend #SpecLimitsOverlay #SigmaBands
ANALYTICS

Kakayahan sa Proseso at Pagsusuri

Mag-screen ng mga anomali gamit ang AEC-Q001 compliant PAT at suriin ang kakayahan sa proseso (Cpk/Cp). Patotohanan ang pagiging maaasahan sa pagsukat gamit ang Gauge R&R at hanapin ang root-cause.

#AEC_Q001_PAT #CpkKakayahan #Gauge_R&R #CorrelationAnalysis
MULTI-LOG

Paghahambing ng Maraming Datalog

Mag-load ng maramihang STDF files nang sabay-sabay upang suriin ang wafer-to-wafer at lot-to-lot yield spreads. Agad na matukoy ang mga anomalya at isaayos ang mga isyu ayon sa prayoridad ng yield gamit ang awtomatikong ranking.

#MaramihangSTDF #WaferLotPaghambing #SpreadOverlay #YieldRanking
REPORT & EXPORT

Awtomatikong Reports at Export

I-export ang mga nasuring wafer maps, charts, at yield summaries sa kumpletong ulat sa isang click lamang. Agad na i-convert sa high-res vector PDF, organisadong Excel (.xlsx), at CSV.

#OneClickReport #HighResPDFReport #ExcelFormatExport #CSVDataExtraction
PAANO GUMAGANA

Mula raw STDF hanggang final na ulat sa 4 na hakbang

Walang sariling-sulat na parser o script. Isang madaling analysis pipeline na hinubog sa pang-araw-araw na workflow ng engineer.

STEP 01

I-load & I-edit

I-drag ang STDF V4 binary para i-load. Ayusin ang sirang file at direktang i-edit ang MIR header.

STEP 02

Mapa & Visualization

Soft/hard Bin map, 3D parametric map, histogram, run chart at scatter plot—agad makikita ang spatial na depekto at distribusyon.

STEP 03

Capability & PAT Screening

I-screen ang mga latent-defect outlier gamit ang AEC-Q001 PAT at i-verify ang Cp/Cpk at Gauge R&R.

STEP 04

One-Click na Ulat

I-convert ang resulta sa high-resolution PDF, multi-sheet Excel (.xlsx), CSV at chart image sa ilang click lang.

Privacy by Design · Seguridad ng Enterprise

Hindi umaalis sa PC mo ang data

Upang protektahan ang semiconductor IP at kumpidensyal na datos ng yield, ang lahat ng pagsusuri ay 100% lokal na pinapatakbo nang walang panlabas na komunikasyon.

AIR-GAPPED

100% Lokal na Offline Execution

Lahat ng STDF parsing at calculations ay eksklusibong tumatakbo sa memory ng iyong PC. Gumagana nang perpekto sa nakahiwalay na fab network (Air-gap) nang walang internet.

#LokalNaKalkulasyon #AirGappedFab #WalangInternetKailangan
ZERO CLOUD

Walang Data na Ina-upload

Walang central server na tumatanggap ng data. Ang raw datalogs, wafer maps, yield rates, at measurements ay hinding-hindi ipinapadala sa labas.

#WalangCloudUpload #ProteksyonSaIP #ZeroNetworkTraffic
NO ACCOUNT

Walang Account o Sign-Up na Kailangan

Walang pagpaparehistro, walang login, at walang cloud verification. Maaaring gamitin agad pagkatapos i-install nang walang kumplikadong pag-apruba sa kumpanya.

#WalangRegistration #WalangLogin #MabilisangGamit
Paliwanag ng STDF

Ano ang STDF?

Ang STDF (Standard Test Data Format) ay industry-standard na binary file format para sa semiconductor test data. Orihinal itong ginawa ng Teradyne at ginagamit ngayon sa halos lahat ng Automatic Test Equipment (ATE) platform para i-record ang resulta ng wafer sort at final test. Kapag sinusukat ng tester ang die o packaged device, isinusulat nito ang parametric measurements, pass/fail bins at test conditions sa isang STDF file na karaniwang tinatawag na datalog.

Basahin ang buong paliwanag ng STDF

1. Bakit may STDF. Bawat semiconductor test program ay gumagawa ng napakaraming measurement data — libu-libong test sa libu-libong die bawat wafer, sa maraming wafer at lot. Binibigyan ng STDF ang buong industriya ng iisang container para mabasa at masuri gamit ang parehong tools ang data mula sa Teradyne, Advantest, Cohu/Xcerra o anumang tester. Kung walang shared format, kakailanganin ng bawat fab at OSAT ng sariling parser para sa bawat makina.

2. Binary format ito. Ang STDF ay hindi text na nababasa ng tao. Ito ay compact na binary stream ng mga record na may iba-ibang haba, bawat isa ay may header (record type + sub-type) at sumusunod na typed fields. Dahil dito, maliit ang file at mabilis isulat ng tester, pero hindi mo ito basta mabubuksan sa Notepad — kailangan ng software na nakakaintindi ng record structure. Ang pinakaginagamit na bersyon ngayon ay STDF V4.

3. Mga pangunahing record type ng STDF V4. Ang STDF file ay sunud-sunod na mga record na naglalarawan sa test run mula simula hanggang wakas:

  • FAR — File Attributes Record: tinutukoy na STDF ang file at ang bersyon nito.
  • MIR / MRR — Master Information / Master Results: lot ID, part type, pangalan ng tester, pangalan ng program, oras ng simula at pagtatapos.
  • WIR / WRR — Wafer Information / Wafer Results: simula, tapos, at yield summary ng bawat wafer.
  • PIR / PRR — Part Information / Part Results: nagmamarka ng simula at wakas ng pagsubok sa isang die/part, kasama ang X-Y coordinate at huling hard/soft bin.
  • PTR — Parametric Test Record: isang numerong sukat (value, units, low/high limits) para sa isang test.
  • FTR — Functional Test Record: pass/fail na resulta ng functional (vector) test.
  • MPR — Multiple-Result Parametric Record: ilang sukat mula sa isang test (hal. pin arrays).
  • HBR / SBR — Hardware Bin / Software Bin Record: bilang ng parts sa bawat bin.
  • TSR — Test Synopsis Record: bilang ng execution at fail, at timing ng bawat test.

4. Saan nanggagaling ang STDF files. Awtomatiko itong nililikha ng ATE sa production test sa wafer sort (probe) at final test. Patuloy na kinokolekta ng mga fab, OSAT (assembly & test house) at IDM ang mga datalog na ito para sa yield monitoring, quality control, at failure analysis.

5. Ano ang makukuha mo mula sa STDF. Kapag na-parse na, magagamit ang STDF datalog sa maraming pagsusuri: wafer maps (bin maps at value maps sa wafer), yield at bin Pareto, histogram at trend/scatter chart na may spec limits at ±σ bands, capability metrics tulad ng Cpk, outlier screening tulad ng PAT (Part Average Testing), measurement-system studies tulad ng Gauge R&R, at wafer-to-wafer o lot-to-lot correlation.

6. Bakit kailangan ng nakalaang STDF tool. Dahil binary ang STDF at maaaring maglaman ng milyun-milyong record bawat lot, hindi praktikal ang manu-manong pagbukas at pag-cross-analyze ng maraming file. Binabasa ng DLOG ang STDF V4 record por record, naglo-load ng maraming file nang sabay, at ginagawang wafer maps, charts at PDF / Excel / image reports ang raw datalogs sa ilang click — ganap na offline sa iyong PC. Subukan nang libre sa loob ng 6 na buwan →

Basahin ang buong gabay sa STDF → Tingnan ang Gabay sa Pag-edit ng STDF → Pumunta sa Gabay ng Wafer Map → Pumunta sa Gabay ng Mga Chart → Tingnan ang buong gabay sa report →
Dokumentasyon

Brochure at user manual

Brochure (PDF) User Manual (PDF)
System requirements

Tumatakbo sa karaniwang Windows

Operating system
Windows 10 / 11 (64-bit)
Runtime
Visual C++ Redistributable — kasama sa installer at awtomatikong ini-install.
Dependencies
Walang .NET o ibang software na kailangan.
Disk space
Mga 100 MB na libreng espasyo.
Memory
4 GB RAM o higit pa (mas mataas para sa napakalalaking datalog).
Download size
64-bit 51.4 MB
Mga gamit

Para saan ginagamit ng mga inhinyero ang DLOG

Ang DLOG ay isang STDF analysis tool at STDF viewer para sa Windows. Binubuksan nito ang mga STDF V4 datalog file na isinulat ng ATE (automatic test equipment) sa panahon ng wafer sort, probe test at final test, at ginagawang wafer map, buod ng yield at statistical report ang hilaw na semiconductor test data.

Buksan at basahin ang STDF
Gamitin ang DLOG bilang STDF file viewer at STDF reader — hindi kailangan ng tester software. Pinaparse nito ang mga STDF V4 record (MIR, WIR/WRR, PIR/PRR, PTR, MPR, FTR, HBR/SBR, TSR, PMR) kaya hindi mo na kailangang gumawa ng sarili mong STDF parser.
Batch na pagsusuri ng datalog
Mag-load ng daan-daang STDF datalog nang sabay at pagsamahin sa iisang pagsusuri upang ihambing ang mga lot, wafer, site at retest.
Wafer map at bin map
Gumuhit ng wafer map, die map at prober map na kinukulayan ayon sa soft bin (SBIN), hard bin (HBIN) o isang parametric na halaga, at magpatong-patong ng wafer upang makita ang paulit-ulit na spatial na pattern ng depekto.
Pagsusuri ng yield
Buod ng bin, Pareto, ulat ng yield at trend ng yield bawat lot para sa pagsubaybay at pagpapabuti ng test yield.
Estadistika at process capability
Cp/Cpk, mean, sigma, min/max, histogram, box plot, trend chart, scatter plot at pagsusuri ng korelasyon para sa bawat test sa file.
PAT at Gauge R&R
Kasama na ang PAT (Part Average Testing) na outlier screening at ang Gauge R&R / MSA measurement system analysis.
STDF papuntang Excel / CSV / PDF
I-convert ang STDF sa Excel (.xlsx), CSV o PDF, at i-export ang mga chart at wafer map bilang larawan — STDF converter at report generator sa iisang tool.
Pag-debug ng test program
Suriin ang datalog ng bawat device, ang mga test limit at ang mga bumagsak na test upang i-debug ang test program nang hindi bumabalik sa tester.
Offline at ligtas
Lokal na tumatakbo sa iyong Windows PC ang lahat ng pagsusuri ng STDF. Hindi kailanman ini-upload kahit saan ang iyong semiconductor test data.
FAQ

Mga madalas itanong

Paano ko bubuksan ang isang STDF file?
Binary format ang STDF kaya hindi ito kayang buksan ng text editor — kailangan mo ng STDF viewer o STDF analysis tool. I-install ang DLOG sa Windows, i-drag ang iyong .stdf / .std file sa window, at agad na pinaparse ng DLOG ang mga STDF V4 record at ipinapakita ang datalog, listahan ng test, buod ng bin at wafer map. Hindi kailangan ng tester o ATE software.
May libreng STDF viewer ba?
Mayroon. Libre ang DLOG nang 6 na buwan mula sa unang paglulunsad na buo ang lahat ng feature — pagtingin ng STDF, wafer map, yield, Cpk, histogram, PAT at Gauge R&R. Walang credit card at walang account na kailangan, kaya magagamit mo ito bilang libreng STDF viewer at analyzer habang sinusubukan.
Paano i-convert ang STDF file sa Excel o CSV?
Buksan ang STDF file sa DLOG at i-export. Kino-convert ng DLOG ang mga STDF datalog sa Excel (.xlsx), CSV at PDF, at maaari ring i-export ang mga chart at wafer map bilang larawan. Nagiging spreadsheet o tapos nang report ang hilaw na binary na STDF test data nang hindi gumagawa ng STDF parser.
Kaya bang suriin ng DLOG ang maraming STDF file nang sabay?
Oo. Nagla-load ang DLOG ng maraming STDF file sa isang batch at pinagsasama ang mga ito sa iisang pagsusuri, kaya maihahambing mo ang mga lot, wafer at retest, mapapatong-patong ang wafer map, at makakagawa ka ng pinagsamang yield at Cpk report para sa buong grupo.
Kaya bang gumuhit ng wafer map at bin map ng DLOG mula sa STDF?
Oo. Direktang binubuo ng DLOG ang wafer map, die map at bin map mula sa mga wafer record ng STDF (WIR/WRR, PRR, HBR/SBR) — kinukulayan ayon sa soft bin, hard bin o parametric na halaga. Maaaring patong-patungin ang maraming wafer upang makita ang paulit-ulit na spatial na pattern ng depekto.
Paano kinakalkula ang Cpk at yield mula sa STDF test data?
Awtomatikong kinukuwenta ng DLOG ang Cp, Cpk, mean, sigma, min/max at yield para sa bawat test sa STDF file, gamit ang mga limit na nakaimbak sa PTR/MPR record. Lumalabas ang resulta bilang talahanayan ng estadistika kasama ang histogram, box plot at trend chart, at mai-e-export sa Excel o PDF.
Anong tester at ATE ang gumagana sa DLOG?
Anumang tester na nagsusulat ng STDF V4. Ang STDF ang pamantayang datalog format ng industriya sa halos lahat ng ATE (automatic test equipment), kaya gumagana ang DLOG sa STDF mula sa wafer sort, probe test at final test anuman ang vendor ng tester.
Anong file format ang sinusuportahan ng DLOG?
Binabasa ng DLOG ang STDF V4 datalogs mula sa ATE / testers at gumagawa ng wafer maps, yield, charts at reports.
Ina-upload ba ang test data ko?
Hindi. Ganap na offline ang DLOG — nananatili sa PC mo ang STDF files at yield data at hindi ipinapadala sa server.
Gaano katagal ang free trial?
Libre ang lahat ng feature sa loob ng 6 na buwan mula sa unang launch. Walang credit card at walang account na kailangan.
Paano gumagana ang licensing pagkatapos ng trial?
Nakatalaga ang lisensya sa isang PC gamit ang Activation ID. Gumagana pa rin pagkatapos ng reformat o reset sa parehong PC (kung nagbago ang Activation ID dahil sa pagpapalit ng hardware tulad ng motherboard, mag-email sa amin para sa libreng re-issue); kailangan ng bagong lisensya para sa ibang PC. Tingnan ang Kasunduan sa Lisensya.
Puwede ba akong magpa-refund?
Dahil may full-featured 6-month trial bago bumili, karaniwang final ang purchases — pero tutulong kami kung pumalya ang activation. Tingnan ang Patakaran sa Refund.
Kasama ba ang tax sa presyo?
Hindi. Hindi kasama ang tax; anumang VAT o sales tax sa iyong bansa ay idinadagdag sa checkout. Pinoproseso ng Lemon Squeezy ang bayad bilang Merchant of Record.
Kailangan ba ng internet o account?
Hindi. Gumagana ang DLOG nang ganap na offline at walang account na kailangan.
Puwede bang i-activate ang DLOG sa air-gapped o offline na PC?
Oo. Ang DLOG ang gumagawa ng Activation ID sa mismong PC. Kopyahin ito, bumili gamit ang device na may internet, at i-type nang manu-mano ang license code sa DLOG ng offline na PC. Hindi na kailangan ng internet ang PC na iyon.
Kaya bang iproseso ng DLOG ang napakalaking STDF file o maraming lot nang sabay?
Ang DLOG ay native na Windows application para sa malalaking STDF V4 datalog. Maaari kang magbukas ng maraming multi-site na STDF file nang sabay at i-stack ang wafer map at statistics. Nakadepende ang aktuwal na bilis sa CPU, memory, at disk ng iyong PC.