Panduan Lengkap Carta Berbilang Dimensi DLOG (Histogram · Trend · Box Plot · Scatter · Pareto · CDF · Multi-Site Delta & ANOVA)

OVERVIEW

1. Susun Atur Skrin dan Kawalan

Pilih jenis carta, parameter ujian dan julat nilai untuk mengemas kini carta dan statistik serta-merta. Klik item pada bar sisi kanan Tests (Cpk) untuk melompat terus ke ujian tersebut; item gagal ditandakan dengan warna merah.

Susun Atur Skrin Carta DLOG — **Rajah 1. Susun Atur Skrin Carta** — ① Jenis Carta ② Parameter Ujian ③ Julat Nilai ④ Ketumpatan ⑤ Log ⑥ Carian ⑦ Kanvas Utama ⑧ Statistik ⑨ Senarai Cpk

Jenis Carta: Histogram · Trend · Box Plot · Scatter Plot · BIN Pareto · CDF / Probability (ujian yang dipilih dikekalkan semasa bertukar carta)
Julat Nilai: Auto (P1~P99) · Full (Min~Maks) · Spec Limits · Manual...
Carian Item: Ctrl + F untuk menapis mengikut nama atau nombor ujian
Klik Kanan Titik: Menyemat kad maklumat cip dengan pautan terus ke Table · Record · Wafer

HISTOGRAM

2. Histogram — Taburan dan Cpk

Memaparkan taburan ukuran bersama keluk penyesuaian Gauss, purata, ±σ dan had spesifikasi (LL/HL). Sampel di luar had ditandakan dengan bar merah.

Paparan Histogram — **Rajah 2. Histogram** — Panel statistik kanan memaparkan Cpk, Cp, Est ppm dan nilai-p kenormalan Anderson-Darling.

Pengekodan Warna Cpk: 3 tahap (Pass / Warn / Fail) dengan ambang piawai 1.00 / 1.33 (boleh disesuaikan dalam Main Options). Jika nilai-p Normality (AD) kurang daripada 0.05, andaian kenormalan ditolak; periksa Plot Kotak atau CDF sebagai ganti. Butang skala Log tersedia untuk Histogram dan CDF apabila semua nilai adalah positif sepenuhnya.

TREND

3. Trend — Pemantauan Siri Masa & Drift

Memplotkan nilai ukuran mengikut urutan kronologi ujian cip bagi mengesan hanyutan (drift), pemanasan terma dan pencilan mendadak (sudden outliers).

Paparan Carta Trend — **Rajah 3. Carta Trend** — Garisan purata, jalur +3σ dan had HL. Titik di luar had ditonjolkan dengan warna merah (Fails).

Sites: Warna berbeza mengikut tapak · Fails: Serlahkan sampel gagal · Gaps: Putuskan garisan pada tempoh terhenti · MovAvg: Purata Bergerak (Moving Average)
WECO: Peraturan carta kawalan Western Electric (R1~R4). Kitaran butang: Mati → 2x → 3x → 1x. Bagi persediaan berbilang tapak, 2x atau 3x mengelakkan penggera palsu.
DPAT (trend): Menindan jalur Part Average Testing (PAT) adaptif yang dikira semula mengikut wafer (biru), tapak (oren) atau lot (ungu).
Selepas mengezum dengan roda tetikus, klik dua kali untuk kembali ke paparan asal.

BOX PLOT

4. Plot Kotak — Kuartil dan Pencilan (Outliers)

Memaparkan ringkasan 5 angka: median, julat antara kuartil (IQR), wisker dan pencilan (outliers) pada satu paparan padat.

Paparan Plot Kotak — **Rajah 4. Plot Kotak** — Kotak = Q1~Q3, Garisan Tebal = Median, Berlian Hijau/Putus = Purata, Titik Merah = Pencilan (outliers) di luar wisker.

Panel statistik menunjukkan Median, Q1, Q3, IQR, had Wisker dan bilangan pencilan (outliers). Klik kanan titik pencilan untuk mencari kedudukan die tersebut pada Peta Wafer.

SCATTER & CORRELATION

5. Serakan / Analisis Korelasi / 3D

Kaji hubungan dua parameter melalui plot serakan dan garisan regresi, serta tinjau pekali korelasi bagi semua pasangan ujian melalui peta haba interaktif.

Paparan Analisis Korelasi — **Rajah 5. Analisis Korelasi** — Peta haba pekali korelasi, plot serakan dengan garisan regresi (r, R², kecerunan) dan jadual ranking Top correlations.

Pearson: Kekuatan hubungan linear · Spearman: Berasaskan pangkat (teguh terhadap pencilan ekstrem (extreme outliers))
Pasangan dengan |r| ≥ 0.95 ditandakan sebagai Duplicate test bagi mengenal pasti calon Pengoptimuman Masa Ujian (TTO).

Paparan Serakan 3D — **Rajah 6. Serakan 3D (Paparan Khas 3D)** — Memetakan 3 ujian serentak pada paksi X, Y dan Z. Seret kiri untuk memutar, seret kanan untuk menggeser, roda untuk zum, klik dua kali untuk set semula.

BIN PARETO

6. Pareto BIN — Kedudukan Kegagalan

Menyusun BIN gagal mengikut kekerapan berserta keluk sumbangan kumulatif. Tiada parameter ujian khusus perlu dipilih.

Paparan Pareto BIN — **Rajah 7. Pareto BIN** — Bar = Bilangan kecacatan dan % setiap BIN, Garisan = Peratusan kumulatif (paksi kanan). Bar sisi menyenaraikan nama dan perkongsian BIN.

15 BIN teratas dipaparkan secara individu, manakala selebihnya dikumpulkan dalam satu bar Others. Bandingkan mod kegagalan teratas dengan tab BIN Peta Wafer untuk menyemak corak kecacatan.

CDF / PROBABILITY

7. CDF / Kebarangkalian — Anomali Ekor Taburan

Memplot bahagian kumulatif sampel di bawah setiap ambang ukuran. Garisan putus-putus mewakili taburan normal; sisihan keluk mendedahkan asimetri dan kecacatan terpendam pada ekor taburan (distribution tails).

Paparan CDF — **Rajah 8. CDF / Probability** — Ekor kanan yang menjangkaui had HL sebelum mencecah 100% mendedahkan die pencilan tersembunyi yang melebihi had atas.

Die pencilan yang sukar dilihat pada bar histogram frekuensi rendah akan kelihatan sangat jelas pada bahagian hujung keluk-S carta CDF.

GROUP & SITE

8. Analisis Kumpulan (ANOVA) & Multi-Site

Bandingkan varians merentasi tapak ujian, suhu, lot atau semakan tester, serta kesan ketidakseimbangan perkakasan antara saluran ujian selari.

Paparan Analisis Kumpulan — **Rajah 9. Group Analysis** — Bandingkan kumpulan melalui plot Box, Hist atau Quantile, dengan keputusan One-way ANOVA (F, nilai-p, Eta²) dan ujian Tukey HSD di bahagian bawah.

Paparan Multi-Site — **Rajah 10. SITE** — Hasil mengikut tapak, jurang BEST/WORST SITE (SITE SPREAD) dan kedudukan ujian mengikut sisihan tapak (TEST MATRIX). Klik dua kali pada nombor tapak untuk menapis data tapak tersebut sahaja.

Sekiranya p < 0.05 dan Eta² ≥ 0.05, ia menunjukkan perbezaan kumpulan yang memerlukan tindakan. (Dengan saiz sampel yang besar, nilai-p boleh menjadi sangat kecil walaupun bagi perbezaan yang amat tipis.)
Konvensyen STDF Site 255 (jumlah keseluruhan tapak) diuruskan melalui tetapan SITE 255 on part records dalam Main Options.

EXPORT

9. Eksport & Pelaporan

Export CSV menyimpan data mentah dan statistik carta aktif, manakala Penjana Laporan menyertakan tangkapan carta ke dalam laporan rasmi. Untuk menindan taburan daripada beberapa fail, gunakan tab Overlay dalam paparan Compare.

TRY DLOG

Periksa Data STDF Anda dengan Carta DLOG Hari Ini

Nikmati akses tanpa had kepada semua ciri dengan lesen percubaan 6 bulan percuma.

Muat Turun DLOG Percuma 6 Bulan →

↑ Kembali ke atas